Máy đo lường X-PREP® VISION™ sử dụng để đo lường silicon và semitransparent substrates. Máy cần thiết cho các ứng dụng mỏng.
Thư viên với tài liệu của hơn 130 các loại vật liệu như: GaAs, InGaAs, SiC, Sapphire/Al2O3, InP, SiGe, GaN, photo-resist
Cách hoạt động:
Tia hồng ngoại chiếu đến vật mẫu cần kiểm tra, dựa vào độ khúc xạ của ánh sáng sau đó so sánh với thư viện các vật liệu được nghiên cứu sẵn để tạo ra bảng phân tích vật liệu.
Đối với các ứng dụng yêu cầu mỏng đến dưới 10 µm, có thể đo chính xác chỉ bằng cách thêm phụ kiện quang phổ có thể nhìn thấy được.
Model và phụ kiện ( vui lòng cung cấp mã khi đặt hàng)
